单个高能粒子导致的器件逻辑状态的翻转,主要发生在数据存储或指令相关器件中。单粒子翻转是空间辐射造成的多种单粒子效应中最常见和最典型的一种。单粒子翻转造成的器件错误属”软错误”,即通过系统复位、重新加电或重新写入能够恢复到正常状态。航天器抗单粒子效应设计的主要途径是采用检错纠错码技术,即通过软件或硬件设计,发现单粒子翻转错误并纠正它,使之不会对航天器系统造成进一步更严重,乃至致命的错误。
(撰写:韩建伟 修订: 审订:都 亨 )
图出处:蔡金荣、林云龙、任琼英等,中国空间科学学会空间探测专业委员会第十二次学术会议论文集,昆明,1999年10月,p135